Sistema Bibliotecario de la Universidad de Quintana Roo Koha › Detalles de: Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía túnel

Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía túnel [recurso electronico] / Carlos Díaz-Guerra Viejo ; director, Javier Piqueras de Noriega.

Por: Díaz-Guerra Viejo, Carlos Colaborador(es): Piqueras de Noriega, Francisco Javier [dir.] | e-libro, Corp Tipo de material: Texto

TextoEditor: Madrid : Universidad Complutense de Madrid, 1999Descripción: iv, 258 pTema(s): Superconductores | Electricidad | Superconductors | Electricity | ElectronicsGénero/Forma: Libros electrónicos. Clasificación CDD: 621.3 Clasificación LoC:TK7872.S8 | D542 1999Recursos en línea: Haga clic para acceso en línea

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Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Físicas, Departamento de Física de Materiales.

Recurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.

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