Díaz-Guerra Viejo, Carlos. <br/><br/>
Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía túnel  [recurso electronico] / 
Carlos Díaz-Guerra Viejo ; director, Javier Piqueras de Noriega. 
 - Madrid :  Universidad Complutense de Madrid,  1999. 
 - iv, 258 p. 
<br/><br/> Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Físicas, Departamento de Física de Materiales. 
<br/><br/><br/>Recurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Superconductores.<br/>Electricidad.<br/>Superconductors.<br/>Electricity.<br/>Electronics.
<br/><br/><label>Index Terms--Genre/Form: </label><br/>Libros electrónicos.
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7872.S8  / D542 1999 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.3 
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>537