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Interfacial Compatibility in Microelectronics [electronic resource] : Moving Away from the Trial and Error Approach / by Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Krȵckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti. por Laurila, Tomi [author.] | Vuorinen, Vesa [author.] | Paulasto-Krȵckel, Mervi [author.] | Turunen, Markus [author.] | Mattila, Toni T [author.] | Kivilahti, Jorma [author.] | SpringerLink (Online service). Origen: Springer eBooksTipo de material: Texto; Formato:
electrónico
disponible en línea ; Forma literaria:
No es ficción Editor: London : Springer London, 2012Acceso en línea: de clik aquí para ver el libro electrónico Disponibilidad: No hay ítems disponibles :
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